A method and apparatus is provided for measuring circuit parameters by analyzing an electric circuit. An equivalent circuit thereof is entered which comprises elements having element values thereof, and a break point and a virtual ground are specified in the equivalent circuit where the break point is provided for disconnecting an electric path for forming a closed-loop circuit. Then, a 2-port network is generated by disconnecting the electric path at the break point in the entered equivalent circuit to form first and second terminals that are ends of the electric path, where the 2-port network has a first port comprised of the first terminal and the virtual ground, and has a second port comprised of the second terminal and the virtual ground. Furthermore, S-parameters of the generated 2-port network is calculated, and an open-loop transfer function of the electric circuit is calculated according to the calculated S-parameters.

Μια μέθοδος και μια συσκευή παρέχονται για τη μέτρηση των παραμέτρων κυκλωμάτων με την ανάλυση ενός ηλεκτρικού κύκλωμα. Ένα ισοδύναμο κύκλωμα επ' αυτού εισάγεται που περιλαμβάνει τα στοιχεία που έχουν τις τιμές στοιχείων επ' αυτού, και ένα σημείο σπασιμάτων και ένα εικονικό έδαφος διευκρινίζονται στο ισοδύναμο κύκλωμα όπου το σημείο σπασιμάτων παρέχεται για την αποσύνδεση μιας ηλεκτρικής πορείας για τη διαμόρφωση ενός κυκλώματος κλειστών βρόγχων. Κατόπιν, ένα δίκτυο 2-λιμένων παράγεται με την αποσύνδεση της ηλεκτρικής πορείας στο σημείο σπασιμάτων στο εισαγμένο ισοδύναμο κύκλωμα που διαμορφώνουν πρώτα και τα δεύτερα τερματικά που είναι άκρες της ηλεκτρικής πορείας, όπου το δίκτυο 2-λιμένων περιλαμβάνει έναν πρώτο λιμένα από το πρώτο τερματικό και το εικονικό έδαφος, και περιλαμβάνει έναν δεύτερο λιμένα από το δεύτερο τερματικό και το εικονικό έδαφος. Επιπλέον, οι s-para'metroj του παραγμένου δικτύου 2-λιμένων υπολογίζονται, και μια open-loop λειτουργία μεταφοράς του ηλεκτρικού κύκλωμα υπολογίζεται σύμφωνα με τις υπολογισμένες s-parame'troys.

 
Web www.patentalert.com

< Method for patterning a silicon-on-insulator photomask

< Fast suspend to disk

> Data storage medium with certification data

> Method of updating the system time of a data processor system

~ 00072