In response to a design request, fault detection strategy optimizing means selects RT-VCs and a fault detection method from a VCDB. The design request includes: requirements for a system LSI (e.g., area, number of pins, test time and information about the weights of prioritized constraints); and VC information. The fault detection strategy optimizing means performs computations for optimization in view of various parameters, thereby specifying a best fault detection strategy and a method of constructing a single-chip fault detection controller. On the VCDB, multiple VCs associated with the same function and mutually different test techniques are stored. By weighting the parameters affecting a test cost in accordance with a user defined priority order, a test technique of the type minimizing the total test cost can be selected from the VCDB.

In risposta ad una richiesta di disegno, la strategia di localizzazione del guasto che ottimizza i mezzi seleziona il RT-VCs-VCs e un metodo di localizzazione del guasto a partire da un VCDB. La richiesta di disegno include: requisiti di un sistema LSI (per esempio, zona, numero di perni, tempo della prova e le informazioni sui pesi dei vincoli dati la priorità a); e VC le informazioni. Il mezzo d'ottimizzazione di strategia di localizzazione del guasto effettua i calcoli per ottimizzazione in considerazione di vari parametri, quindi specificanti una strategia la migliore di localizzazione del guasto e un metodo di costruzione del regolatore single-chip di localizzazione del guasto. Sul VCDB, VCs multiplo connesso con la stessa funzione e le tecniche di collaudo reciprocamente differenti sono immagazzinati. Appesantendo i parametri che interessano un costo della prova in conformità con un ordine di priorità definito utente, una tecnica di collaudo del tipo che minimizza il costo totale della prova può essere scelta dal VCDB.