A manufacturing test system and method is presented for testing a computing system under test, which includes a computing device comprising internal emulation debug hardware and an emulation debug port through which the debug hardware is controlled. Manufacturing-level microprogram based functional tests are executed under the control of the internal emulation debug hardware of the computing device. A computing system probe applies the microprogram based functional test to the internal emulation debug hardware of the computing device via the emulation debug port. The manufacturing-level microprogram based functional test may be executed during at any level of computing device integration including the wafer, package, board, multi-chip module and system levels.

Система и метод испытания изготавливания для испытывать вычислительную систему под испытанием, которое вклюает вычисляя приспособление состоя из внутренне эмулирования debug оборудование и эмулирование debug порт через который оборудование debug controlled. испытания Изготавливани-urovn4 основанные микропрограммой функциональные исполнены под управлением внутренне эмулирования debug оборудование вычисляя приспособления. Зонд вычислительной системы прикладывает микропрограмму основанное функциональное, котор испытание к внутренне эмулированию debug оборудование вычисляя приспособления через эмулирование debug порт. Испытание изготавливани-urovn4 основанное микропрограммой функциональное может быть исполнено во время на любого уровня вычисляя внедрения приспособления включая вафлю, пакет, доску, модуль мулти-oblomoka и системные уровни.