A guided-probe test fixture is disclosed for connecting circuit cards
having electronic components to a board test system. The test fixture
utilizes long, leaning or vertical test probes, guide plates and limited
probe tip travel in order to achieve high-accuracy, fine-pitch probing of
limited-access, no-clean test targets. The guided-probe test fixture of
the present invention also utilizes spring probes, probe-mounting plates,
personality pins and an alignment plate in order to couple test targets
with multiplexed tester resources. The guided-probe test fixture of the
present invention may also utilize a universal interface plate with
double-headed spring probes and/or a wireless interface printed circuit
board to facilitate the electrical coupling of test targets to tester
resources. Accordingly, the guided-probe test fixture of the present
invention is capable of sophisticated in-circuit and functional testing of
a loaded-printed circuit board containing both standard-access and
limited-access, no-clean test targets. The present invention is also
capable of improved probing accuracy, improved no-clean testability and
improved fine-pitch probing of limited-access test targets, while at the
same time capable of probing standard-access test targets.
Gui-sonde o dispositivo elétrico do teste é divulgado para os cartões de circuito conectando que têm componentes eletrônicos a um sistema do teste da placa. O dispositivo elétrico do teste utiliza por muito tempo, inclinando-se ou as pontas de prova verticais do teste, as placas de guia e o curso limitado da ponta da ponta de prova a fim conseguir high-accuracy, fino-lançam sondar de alvos de teste limited-access, nenhum-limpos. Gui-sonde o dispositivo elétrico do teste da invenção atual utiliza também pontas de prova da mola, placas da sond-montagem, pinos da personalidade e uma placa do alinhamento a fim acoplar alvos de teste com recursos multiplexed do verificador. Gui-sonde o dispositivo elétrico do teste da invenção atual pode também utilizar uma placa universal da relação com pontas de prova dobro-dirigidas da mola e/ou uma placa de circuito impressa da relação wireless para facilitar o acoplamento elétrico de alvos de teste aos recursos do verificador. Conformemente, gui-sonde o dispositivo elétrico do teste da invenção atual é capaz de testar in-circuit e funcional sofisticado de uma placa de circuito carreg-impressa que contem o padrão-acesso e alvos de teste limited-access, nenhum-limpos. A invenção atual é também capaz da exatidão sondando melhorada, testability nenhum-limpo melhorado e melhorado fino-lance sondar de alvos de teste limited-access, quando ao mesmo tempo capaz de sondar alvos de teste do padrão-acesso.
