A processor-to-memory interface (PMI) for a multiprocessor computer system and a computer testing method are disclosed. The multi-processor computer system provides a processor-to-memory-bus interface for each microprocessor. Each processor-to-memory-bus interface translates between microprocessor and bus protocols and manages respective level-2 (L2) caches. In addition, each interface includes test-event hardware that, when enabled causes test events to be generated with a predetermined repetition rate. The test events are selected for having a non-zero probability of causing system events that are complex, rare and non-fatal. These include assertions of "busy" and "wait" conditions and corrections of single-bit cache errors. The test-event hardware includes a timing generator that determines when test events are to be generated, an event-flag register that determines which events are to be generated, and a test-event generator that generates test-events at the times determined by the timing generator. The timing generator can include a down counter and a register for holding a value to be entered into the counter upon initialization and reset. So that cache error-correction logic can be tested, a cache manager includes a cache-error generator that can generate cache errors at times determined by said timing generator. The test-event hardware permits system events of interest to be repeatedly generated during a test procedure without repeated intervention by a test program. The hardware test-event generation simplifies test program design and allows faster testing throughput.

Μια διεπαφή επεξεργαστής-$$$-ΜΝΉΜΗΣ (PMI) για ένα συγκρότημα ηλεκτρονικών υπολογιστών πολυεπεξεργαστών και μια εξεταστική μέθοδος υπολογιστών αποκαλύπτονται. Το συγκρότημα ηλεκτρονικών υπολογιστών πολυεπεξεργαστών παρέχει μια διεπαφή επεξεργαστής-$$$-ΜΝΉΜΗ-ΛΕΩΦΟΡΕΊΩΝ για κάθε μικροεπεξεργαστή. Κάθε διεπαφή επεξεργαστής-$$$-ΜΝΉΜΗ-ΛΕΩΦΟΡΕΊΩΝ μεταφράζει μεταξύ των πρωτοκόλλων μικροεπεξεργαστών και λεωφορείων και διαχειρίζεται αντίστοιχες ισόπεδος-2 (L2) κρύπτες. Επιπλέον, κάθε διεπαφή περιλαμβάνει το υλικό δοκιμή-γεγονότος που, όταν εξετάζουν οι αιτίες τα γεγονότα που παράγονται με ένα προκαθορισμένο επαναληπτικό ποσοστό. Τα γεγονότα δοκιμής επιλέγονται για την κατοχή μιας διαφορετικής από το μηδέν πιθανότητας της πρόκλησης των γεγονότων συστημάτων που είναι σύνθετα, σπάνια και non-fatal. Αυτοί περιλαμβάνουν τους ισχυρισμούς "πολυάσχολου" και "περιμένετε" τους όρους και τις διορθώσεις των λαθών κρύπτης ενιαίος-κομματιών. Το υλικό δοκιμή-γεγονότος περιλαμβάνει μια γεννήτρια συγχρονισμού που καθορίζει πότε τα γεγονότα δοκιμής πρόκειται να παραχθούν, ένας κατάλογος γεγονός-σημαιών που καθορίζει ποια γεγονότα πρόκειται να παραχθούν, και μια γεννήτρια δοκιμή-γεγονότος που παράγει τα δοκιμή-γεγονότα στους χρόνους που καθορίζονται από τη γεννήτρια συγχρονισμού. Η γεννήτρια συγχρονισμού μπορεί να περιλάβει έναν κάτω μετρητή και έναν κατάλογο για το κράτημα μιας αξίας που εισάγεται στο μετρητή επάνω στην έναρξη και την αναστοιχειοθέτηση. Έτσι ώστε η λογική λάθος-διορθώσεων κρύπτης μπορεί να εξεταστεί, ένας διευθυντής κρύπτης περιλαμβάνει μια γεννήτρια κρύπτη-λάθους που μπορεί να παραγάγει τα λάθη κρύπτης που καθορίζονται κατά περιόδους από την εν λόγω γεννήτρια συγχρονισμού. Το υλικό δοκιμή-γεγονότος επιτρέπει στα γεγονότα συστημάτων ενδιαφέρον ενδιαφέρον για να παραχθεί επανειλημμένα κατά τη διάρκεια μιας διαδικασίας δοκιμής χωρίς επαναλαμβανόμενη επέμβαση από ένα πρόγραμμα δοκιμής. Η παραγωγή δοκιμή-γεγονότος υλικού απλοποιεί το σχέδιο προγράμματος δοκιμής και επιτρέπει τη γρηγορότερη εξεταστική ρυθμοαπόδοση.

 
Web www.patentalert.com

< (none)

< Front and rear contacting EMI gasket

> Data interface for high performance

> (none)

~ 00002