The present invention provides an apparatus and method for repairing or improving the behavior of a tunable circuit of an integrated circuit (IC) when a target parameter exceeds a predetermined range due to a design and/or fabrication problem. The tunable circuit includes one or more tuning controllers for tuning a corresponding number of target circuits. Each tuning controller includes one or more registers and an optional decoder. Each target circuit includes a tunable portion and a functional portion. The functional portion can have one or more of a wide variety of functions including but not limited to logical gates, buffers, signal generators and amplifiers. The selectable parameters of the tunable circuit include timing delays, trip voltages, rise/fall times and/or output impedances. When a circuit designer wishes to tune the target parameter, an appropriate tuning pattern is latched into registers of the tuning controller. In turn, the tuning controller generates corresponding tuning pattern signals enabling target circuit(s) to changeably tune the target parameter by selectively enabling different tunable portions of the target circuit. For example, by selecting the appropriate load resistance and/or capacitance of the tunable circuit, the rise/fall time of the target circuit is tuned for compatibility with respect to the other portions of the IC or system. The tunable circuit of the present invention advantageously lends itself to post-fabrication correction of design or fabrication problems, thereby increasing the potential yield rate. In addition, the tunable circuit can be tested under different operating conditions in a non-destructive manner without the need for another time-consuming and costly IC fabrication cycle. Other advantages include the ability to selectively operate target circuit(s) of the IC at a higher speed under ideal conditions and at a lower speed under hostile conditions.

La actual invención proporciona un aparato y un método para reparar o mejorar el comportamiento de un circuito armonioso de un circuito integrado (IC) cuando un parámetro de la blanco excede una gama predeterminada debido a un diseño y/o a un problema de la fabricación. El circuito armonioso incluye unos o más reguladores que templan para templar un número correspondiente de los circuitos de la blanco. Cada regulador que templa incluye unos o más registros y un decodificador opcional. Cada circuito de la blanco incluye una porción armoniosa y una porción funcional. La porción funcional puede tener una o más de una variedad amplia de funciones que incluyen pero no limitadas a las puertas, a los almacenadores intermediarios, a los generadores de señal y a los amplificadores lógicos. Los parámetros seleccionables del circuito armonioso incluyen retraso, los voltajes del viaje, los tiempos de rise/fall y/o las impedancias de la salida. Cuando un diseñador del circuito desea templar el parámetro de la blanco, un patrón que templa apropiado está trabado en los registros del regulador que templa. Alternadamente, el regulador que templa genera señales correspondientes del patrón que templan permitiendo al circuit(s) de la blanco changeably templar el parámetro de la blanco selectivamente permitiendo diversas porciones armoniosas del circuito de la blanco. Por ejemplo, seleccionando la resistencia de la carga y/o la capacitancia apropiadas del circuito armonioso, la época de rise/fall del circuito de la blanco es templada para la compatibilidad con respecto a las otras porciones del IC o del sistema. El circuito armonioso de la actual invención se presta ventajoso a la corrección de la poste-fabricacio'n de los problemas del diseño o de la fabricación, de tal modo aumentando la tarifa potencial de la producción. Además, el circuito armonioso se puede probar bajo diversas condiciones de funcionamiento de una manera no destructiva sin la necesidad de otro ciclo desperdiciador de tiempo y costoso de la fabricación del IC. Otras ventajas incluyen la capacidad de funcionar selectivamente el circuit(s) de la blanco del IC a una velocidad más alta bajo condiciones ideales y a una velocidad más baja bajo condiciones hostiles.