A testing system evaluates one or more integrated circuit chips using RF communication. The system includes an interrogator unit with a radio communication range, and an IC chip adapted with RF circuitry positioned remotely from the interrogator unit, but within the radio communication range. The interrogator unit transmits a power signal to energize the IC chip during test procedures, and interrogating information for evaluating the operation of the IC chip. Test results are transmitted by the IC chip back to the interrogator unit for examination to determine whether the IC chip has a defect. In this manner, one or more IC chips can be evaluated simultaneously without physically contacting each individual chip.

Een testend systeem evalueert één of meerdere spaanders van geïntegreerde schakelingen gebruikend rf- mededeling. Het systeem omvat een ondervragerseenheid met een radioverbindingswaaier, en een IC spaander die met het schakelschema van rf wordt aangepast dat ver van de ondervragerseenheid, maar binnen de radioverbindingswaaier wordt geplaatst. De ondervragerseenheid geeft een machtssignaal om de IC spaander tijdens testprocedures te activeren, en het ondervragen informatie voor de evaluatie van de verrichting van de IC spaander door. De resultaten van de test worden overgebracht door de IC spaander terug naar de ondervragerseenheid voor onderzoek om te bepalen of de IC spaander een tekort heeft. Op deze wijze, kunnen één of meerdere IC spaanders gelijktijdig worden geëvalueerd zonder elke individuele spaander fysisch te contacteren.