Disclosed herein is a semiconductor device having a semiconductor memory
circuit whose operation is tested in combination with an external test
means to specify defective portions produced in a memory section of the
semiconductor memory circuit and shorten the time necessary for its test.
The present semiconductor device comprises a test pattern generator for
generating a test pattern indicative of the type of test and an expected
value estimated to be obtained by the test pattern in response to a
command issued from the test means, the semiconductor memory circuit,
which has a plurality of memory cells disposed in the form of a matrix
with rows and columns and respectively store data therein and is activated
based on the test pattern so as to output data in the respective memory
cells every columns, a decision unit for comparing each output data with
the expected value and outputting the result of comparison therefrom and a
translation unit for converting the result of comparison into address data
and outputting it to the external test means.
Показан здесь прибора на полупроводниках имея цепь памяти полупроводника деятельность испытана in combination with середины внешние испытания определить неполноценные произведенные части в разделе памяти цепи памяти полупроводника и сократить время обязательно для своего испытания. Присытствыющий прибора на полупроводниках состоит из генератора телевизионнаяа испытательная таблица для производить телевизионнаяа испытательная таблица признаковой типа испытания и предпологаемого значения оцененные, что был получен телевизионнаяа испытательная таблица in response to команда выданная от середин испытания, цепь памяти полупроводника, которая имеет множественность ячейкы памяти размещанные in the form of матрица с рядками и колонками и соответственно данными по магазина в этом и активирована основала на телевизионнаяа испытательная таблица данныа об объеме продукции в соответственно ячейкы памяти каждые колонки, блок решения для сравнивать каждый данныа об объеме продукции с предпологаемым значением и вывидить наружу результат сравнения therefrom и блок перевода для преобразовывать результат сравнение в и вывидить наружу адресныа сведения оно к внешним серединам испытания.