Scannable fuse latches are provided that can override current fuse values, read current fuse values, and latch current fuse values. Using the scannable fuse latches of the current invention allows current fuse values to be overridden, which can be important in testing and failure analysis to place the integrated circuit in a known state. The scannable fuse latches of the current invention also allow current fuse values to be read. This aids failure analysis because the current state of the failed integrated circuit can be determined. Finally, the scannable fuse latches of the present invention allow the current state of fuses to be latched and provided to a core of an integrated circuit.

De de zekeringsklinken worden van Scannable verstrekt die huidige zekeringswaarden kunnen met voeten treden, huidige zekeringswaarden, en waarden van de klink de huidige zekering lezen. Het gebruiken van de scannable zekeringsklinken van de huidige uitvinding laat huidige zekeringswaarden toe om worden met voeten getreden, die in het testen en mislukkingsanalyse belangrijk kunnen zijn om de geïntegreerde schakeling in een bekende staat te plaatsen. De scannable zekeringsklinken van de huidige uitvinding laten ook huidige zekeringswaarden toe om worden gelezen. Dit helpt mislukkingsanalyse omdat de huidige staat van de ontbroken geïntegreerde schakeling kan worden bepaald. Tot slot laten de scannable zekeringsklinken van de onderhavige uitvinding de huidige staat van zekeringen toe om aan een kern van een geïntegreerde schakeling worden gesloten en worden verstrekt.