A system for coupling a Dynamic Termination Logic (DTL) type output driver to IEEE 1149.1 boundary-scan circuitry includes a logic circuit that converts the data and output enable signals of the IEEE 1149.1 specification to test "q_up," "q_dn" and "q25_dn" signals meeting the requirements of the DTL driver. These test q_up, q_dn and q25_dn are selectively provided to the DTL driver during boundary-scan testing of the output driver. In a further refinement, the system also converts functional q_up, q_dn and q25_dn signals provided by the circuit under test to the data and output enable signals of the IEEE 1149.1 specification. The system allows the widely used IEEE 1149.1 boundary-scan standard to be used with DTL drivers. The resulting compatibility simplifies the testing and use of the DTL drivers, and provides a new boundary-scan standard for use with DTL drivers that is compliant with the IEEE 1149.1 standard.

Un système pour coupler un type dynamique de la logique d'arrêt (DTL) conducteur de rendement à IEEE 1149.1 frontière-balayent des circuits inclut un circuit logique qui convertit les données et le rendement permettent des signaux des spécifications d'IEEE 1149.1 pour examiner "q_up," des signaux d'"q_dn" et d'"q25_dn" répondant aux exigences du conducteur de DTL. Celles-ci examinent le q_up, q_dn et q25_dn sont sélectivement fournis au conducteur de DTL pendant frontière-balayent l'essai du conducteur de rendement. Dans une autre amélioration, le système convertit également le q_up fonctionnel, q_dn et les signaux de q25_dn fournis par le circuit à l'essai aux données et au rendement permettent des signaux des spécifications d'IEEE 1149.1. Le système permet l'IEEE largement répandu 1149.1 frontière-balayent la norme à employer avec des conducteurs de DTL. La compatibilité résultante simplifie l'essai et l'utilisation des conducteurs de DTL, et fournit un nouveau frontière-balayent la norme pour l'usage avec des conducteurs de DTL qui est conforme avec la norme d'IEEE 1149.1.