A logic circuit determines the power consumption of a semiconductor
integrated device by taking into consideration the variation of the rate
of operation. A control signal (TEST) is applied to each control signal
input port (Tin) of flip-flop circuits of flip-flop circuit groups and a
logic gate circuit having a plurality of input ports A and B in a combined
circuit group. If the control signal (TEST) is low, both the flip-flop
circuits and the logic gate circuit operate normally. However, if the
control signal (TEST) is high, each of them performs the power consumption
test. Regardless of the value of input signals applied to input ports D1
and D2 of the flip-flop circuits, the flip-flop circuits are controlled to
have a repetitive output signal of high and low levels at ports Q1 and Q2,
in synchronism with a clock signal. Through this operation test,
operational failure is reduced and the quality of semiconductor chip
production is guaranteed, because it is possible to predict accurately the
power consumption when designing the logic circuit due to the relationship
between the rate of operation and the power consumption.
Eine Koinzidenzschaltung stellt die Leistungsaufnahme einer Halbleiter integrierten Vorrichtung fest, indem sie in Erwägung die Veränderung der Rate des Betriebes zieht. Ein Steuersignal (TEST) wird an jedem Steuersignal-Eingang Tor (Zinn) der Flipflopstromkreise der Flipflopstromkreisgruppen und des Logikgatterstromkreises, der eine Mehrzahl des Einganges hat, trägt A und B in einer kombinierten Satzgruppe angewendet. Wenn das Steuersignal (TEST), niedrig ist, funktionieren die Flipflopstromkreise und der Logikgatterstromkreis normalerweise. Jedoch wenn das Steuersignal (TEST) hoch ist, führt jeder von ihnen den Leistungsaufnahme Test durch. Unabhängig davon den Wert der Eingangssignale traf auf Eingang Tore D1 zu und D2 der Flipflopstromkreise, die Flipflopstromkreise werden gesteuert, um ein sich wiederholendes Ausgangssignal der hohen und niedrigen Niveaus an den Toren Q1 und Q2, im Synchronismus mit einem Taktgebersignal zu haben. Durch diesen Betrieb Test wird funktionsfähiger Ausfall verringert und die Qualität der Halbleiterspanproduktion wird garantiert, weil es möglich ist, die Leistungsaufnahme genau vorauszusagen, wenn man die Koinzidenzschaltung wegen des Verhältnisses zwischen der Rate des Betriebes und der Leistungsaufnahme entwirft.
