An apparatus and method for the processing of height information indicative of the roughness or texture of a surface which may be used to produce an improved two dimensional recording of the surface. The apparatus or method has particular applicability in the field on metrological instruments. In processing the surface information, the apparatus or method takes account not only of the basic height information but also of gradient information. Such gradient information is furthermore adjusted dependent upon a desired angle of illumination which may be selected by the user.

Apparaten en een methode voor de verwerking van hoogteinformatie indicatief van de ruwheid of de textuur van een oppervlakte die kan worden gebruikt om een betere tweedimensionale opname van de oppervlakte te veroorzaken. Het apparaat of de methode hebben bijzondere toepasselijkheid op het gebied op metrologische instrumenten. Bij de verwerking van de oppervlakteinformatie, houden het apparaat of de methode rekening niet alleen van de basishoogteinformatie maar ook met gradiëntinformatie. Dergelijke gradiëntinformatie wordt verder aangepast afhankelijk van een gewenste hoek van verlichting die door de gebruiker kan worden geselecteerd.