A testing system evaluates one or more integrated circuit chips using RF communication. The system includes an interrogator unit with a radio communication range, and an IC chip adapted with RF circuitry positioned remotely from the interrogator unit, but within the radio communication range. The interrogator unit transmits a power signal to energize the IC chip during test procedures, and interrogating information for evaluating the operation of the IC chip. Test results are transmitted by the IC chip back to the interrogator unit for examination to determine whether the IC chip has a defect. In this is manner, one or more IC chips can be evaluated simultaneously without physically contacting each individual chip.

Ένα εξεταστικό σύστημα αξιολογεί ένα ή περισσότερα τσιπ ολοκληρωμένων κυκλωμάτων χρησιμοποιώντας την επικοινωνία RF. Το σύστημα περιλαμβάνει μια μονάδα ανακρίσεων με μια σειρά ραδιοεπικοινωνίας, και ένα τσιπ ολοκληρωμένου κυκλώματος που προσαρμόζεται με τα στοιχεία κυκλώματος RF που τοποθετούνται μακρινά από τη μονάδα ανακρίσεων, αλλά μέσα στη σειρά ραδιοεπικοινωνίας. Η μονάδα ανακρίσεων διαβιβάζει ένα σήμα δύναμης για να ενεργοποιήσει το τσιπ ολοκληρωμένου κυκλώματος κατά τη διάρκεια των διαδικασιών δοκιμής, και τις πληροφορίες ερώτησης για την αξιολόγηση της λειτουργίας του τσιπ ολοκληρωμένου κυκλώματος. Τα αποτελέσματα της δοκιμής διαβιβάζονται από το τσιπ ολοκληρωμένου κυκλώματος πίσω στη μονάδα ανακρίσεων για την εξέταση για να καθορίσουν εάν το τσιπ ολοκληρωμένου κυκλώματος έχει μια ατέλεια. Σε αυτό είναι τρόπος, ένα ή περισσότερα τσιπ ολοκληρωμένου κυκλώματος μπορούν να αξιολογηθούν ταυτόχρονα χωρίς φυσικά να έρθουν σε επαφή με κάθε μεμονωμένο τσιπ.