An apparatus and method are provided for picking up an integrated circuit and for facilitating the optical testing thereof. The apparatus comprises a pick-up mechanism that includes a vacuum chamber. The vacuum chamber is defined by an upper portion, an expandable member, and a lower portion. The lower portion defines a suction orifice that is moveable with a movement of the expandable member. An optical pathway is defined by the vacuum chamber, the optical pathway passing through the suction orifice and onto an integrated circuit that is held against the suction orifice via a vacuum pressure applied to the vacuum chamber.

Un matériel et une méthode sont donnés pour sélectionner vers le haut d'un circuit intégré et pour faciliter l'essai optique en. L'appareil comporte un mécanisme de ramassage qui inclut une chambre de vide. La chambre de vide est définie par une partie supérieure, un membre extensible, et une partie inférieure. La partie inférieure définit un orifice d'aspiration qui est mobile avec un mouvement du membre extensible. Une voie optique est définie par la chambre de vide, la voie optique passant par l'orifice d'aspiration et sur un circuit intégré qui est tenu contre l'orifice d'aspiration par l'intermédiaire d'une pression de vide appliquée à la chambre de vide.