Disclosed is a liquid crystal display device, comprising: a first substrate
including a first alignment key formed thereon, the first alignment key
having at least first and second alignment marks spaced from each other;
and a second substrate to be aligned with the first substrate, including a
second alignment key formed thereon, the second alignment key having at
least third and fourth alignment marks, the third alignment mark being
formed at a corresponding position of the first alignment mark of the
first alignment key, the fourth alignment mark being offset at least a
first predetermined distance in at least a first direction from the second
alignment mark of the first alignment key. Using an alignment key of the
present invention, since the upper and lower substrates can be correctly
aligned each other, there is an advantage that a low yield resulting from
an alignment error is prevented, and it is easy to identify a
misalignment, quantify its magnitude in two directions, and thus be able
to discern whether two substrates are correctly aligned with each other or
not.
Se divulga un dispositivo del indicador de cristal líquido, abarcando: un primer substrato incluyendo una primera llave de la alineación formó sobre eso, la primera llave de la alineación que tenía por lo menos primero y las segundas marcas de alineación espaciadas de uno a; y un segundo substrato que se alineará con el primer substrato, incluyendo una segunda llave de la alineación formada sobre eso, la segunda llave de la alineación que tenía por lo menos terceras y cuartas marcas de alineación, la tercera marca de alineación que era formada en una posición correspondiente de la primera marca de alineación de la primera llave de la alineación, la cuarta marca de alineación que era compensada por lo menos una primera predeterminó distancia en por lo menos una primera dirección de la segunda marca de alineación de la primera llave de la alineación. Usando una llave de la alineación de la actual invención, puesto que los substratos superiores y más bajos se pueden correctamente alinear, hay una ventaja que una producción baja que resulta de un error de alineación está prevenida, y es fácil identificar un desalineamiento, cuantifica su magnitud en dos direcciones, y pueda así discernir si dos substratos están alineados correctamente con uno a o no.
