A method and system for testing an integrated circuit. A test substrate is provided which is manufactured by the same particular production technology for which the integrated circuit is designed. A pattern generator for generating test data and a result checker for comparing output data are embedded on the test substrate. Isolated portions of circuitry of the integrated circuit are selectively embedded onto the test substrate. Test data from the pattern generator is applied to the isolated portions of circuitry under a first operating condition. The data output from the isolated portions of circuitry is selectively recorded into the result checker. The isolated portions of circuitry are then subjected to testing by applying test data from the pattern generator to the isolated portions of circuitry under a second operating condition. Errors in the isolated portions of circuitry are detected with the result checker by comparing data output from the isolated portions of circuitry with the selectively recorded data output, such that the integrated circuit is tested by subsets, independently of testing the integrated circuit in its entirety.

Eine Methode und ein System für die Prüfung einer integrierten Schaltung. Ein Testsubstrat wird zur Verfügung gestellt, das durch die gleiche bestimmte Produktion Technologie hergestellt wird, für die die integrierte Schaltung bestimmt ist. Ein Mustergenerator für das Erzeugen von von Testdaten und ein Resultat Kontrolleur für das Vergleichen von von Ausgang Daten werden auf dem Testsubstrat eingebettet. Lokalisierte Teile Schaltkreis der integrierten Schaltung werden selektiv auf das Testsubstrat eingebettet. Testdaten vom Mustergenerator werden an den lokalisierten Teilen des Schaltkreises unter einer ersten Betriebsbedingung angewendet. Der Datenausgang von den lokalisierten Teilen des Schaltkreises wird selektiv in den Resultat Kontrolleur notiert. Die lokalisierten Teile des Schaltkreises werden dann der Prüfung unterworfen, indem man Testdaten vom Mustergenerator an den lokalisierten Teilen des Schaltkreises unter einer zweiten Betriebsbedingung anwendet. Störungen in den lokalisierten Teilen des Schaltkreises werden mit dem Resultat Kontrolleur ermittelt, indem man Datenausgang von den lokalisierten Teilen des Schaltkreises mit dem selektiv notierten Datenausgang, so, daß die integrierte Schaltung durch Teilmengen geprüft wird, unabhängig Prüfung der integrierten Schaltung in seiner Ganzheit vergleicht.