A method of detecting systemic fault conditions in an intelligent electronic device is presented. The intelligent electronic device includes a microcontroller and associated memories. An algorithm (program) stored in a memory of the intelligent electronic device detects systemic fault conditions, i.e., root causes, as indicated by repeated, similar fault events.

Un método de detectar condiciones de avería systemic en un dispositivo electrónico inteligente se presenta. El dispositivo electrónico inteligente incluye un microcontrolador y memorias asociadas. Un algoritmo (programa) almacenado en una memoria del dispositivo electrónico inteligente detecta condiciones de avería systemic, es decir, arraigue las causas, según lo indicado por acontecimientos repetidos, similares de la avería.