A method for characterizing one or more material properties for each of five (5) or more samples, comprising the steps of depositing five or more samples on a substrate having 5 or more sensors arranged in a sensor array, wherein each sensor supports at least one sample of five or more samples and characterizes at least one material property of the sample supported thereby and measures at least one material property of the five or more samples at a rate of at least one sample every 2 minutes.

Une méthode pour caractériser une ou plusieurs propriétés matérielles pour chacun de cinq (5) échantillons ou plus, comportant les étapes de déposer cinq échantillons ou plus sur un substrat faisant arranger 5 sondes ou plus dans une rangée de sonde, où chaque sonde soutient au moins un échantillon de cinq échantillons ou plus et caractérise au moins une propriété matérielle de l'échantillon soutenu de ce fait et des mesures au moins une propriété matérielle de cinq échantillons ou plus à un taux au moins d'un échantillon toutes les 2 minutes.