A computer program product method of circuit design of a multiple input circuit, macro or chip, especially for silicon on insulator (SOI) circuits. For a multiple input circuit, an object list of items corresponding to circuit devices is created. The items model local effects on corresponding circuit elements. The circuit is analyzed using Static or DC analysis to provide initial local effects on circuit devices, including body effects and local heat effects. The initial local effects are passed to the circuit model for transient analysis. The local effects from checked transient results are checked and updated. The transient response is rerun and the local effects are updated until the change in local effects is below an upper limit. For added efficiency, unswitching devices may be eliminated from the iterative analysis and analysis may be limited to the period when switching occurs.

Een methode van het computerprogrammaproduct van kringsontwerp van een veelvoudige input kring, een macro of een spaander, vooral voor silicium op isolatie (SOI) kringen. Voor een veelvoudige inputkring, wordt een objecten lijst van punten die aan kringsapparaten beantwoorden gecreeerd. De punten modelleren lokale gevolgen voor overeenkomstige kringselementen. De kring is het geanalyseerde Statisch gebruiken of de analyse van DC om aanvankelijke lokale gevolgen voor kringsapparaten, met inbegrip van lichaamsgevolgen en lokale hittegevolgen te verstrekken. De aanvankelijke lokale gevolgen worden overgegaan tot het kringsmodel voor voorbijgaande analyse. De lokale gevolgen van gecontroleerde voorbijgaande resultaten worden gecontroleerd en bijgewerkt. De voorbijgaande reactie is rerun en de lokale gevolgen worden bijgewerkt tot de verandering in lokale gevolgen onder een hogere grens is. Voor toegevoegde efficiency, kunnen de unswitching apparaten van de herhaalde analyse worden geëlimineerd en de analyse kan tot de periode worden beperkt wanneer de omschakeling voorkomt.