An electronic tester with digital, and analog, and memory test circuitry on a single platform. A test head is coupled to a device under test. The device under test can be a system-on-a-chip integrated circuit, a mixed signal integrated circuit, a digital integrated circuit, or an analog integrated circuit. Digital test circuitry applies digital test signals to the device under test coupled to the test head and receives digital outputs from the device under test in response to the digital test signals. Analog test circuitry applies analog test signals to the device under test coupled to the test head and receives analog outputs from the device under test in response to the analog test signals. Memory test circuitry applies memory test patterns to the device under test coupled to the test head and receives memory outputs from the device under test in response to the memory test patterns. A tester computer supervises the application of digital, analog, and memory test signals from the digital, analog, and memory test circuitry to the device under test such that signals applied to the device under test can be solely digital test signals, solely analog test signals, solely memory test signals, or mixed digital, analog, and memory test signals. The test head, the digital test circuitry, the analog test circuitry, the memory test circuitry, and the computer are operable as a single platform.

Un probador electrónico con el trazado de circuito digital, y análogo, y de la memoria de la prueba en una sola plataforma. Una cabeza de la prueba se junta a un dispositivo bajo prueba. El dispositivo bajo prueba puede ser un circuito integrado de la sistema-en-uno-viruta, un circuito integrado de la señal mezclada, un circuito integrado digital, o un circuito integrado análogo. El trazado de circuito de la prueba de Digital aplica señales digitales de la prueba al dispositivo bajo prueba juntada a la cabeza de la prueba y recibe salidas digitales del dispositivo bajo prueba en respuesta a las señales digitales de la prueba. El trazado de circuito análogo de la prueba aplica señales análogas de la prueba al dispositivo bajo prueba juntada a la cabeza de la prueba y recibe salidas análogas del dispositivo bajo prueba en respuesta a las señales análogas de la prueba. El trazado de circuito de la prueba de la memoria aplica patrones de prueba de la memoria al dispositivo bajo prueba juntada a la cabeza de la prueba y recibe salidas de la memoria del dispositivo bajo prueba en respuesta a los patrones de prueba de la memoria. Un probador que la computadora supervisa el uso de las señales digitales, análogas, y de la memoria de la prueba del trazado de circuito digital, análogo, y de la memoria de la prueba al dispositivo bajo prueba tales que las señales aplicadas al dispositivo bajo prueba pueden ser señales solamente digitales de la prueba, prueba solamente análoga señala, solamente las señales de la prueba de la memoria, o las señales digitales, análogas, y de la memoria mezcladas de la prueba. La cabeza de la prueba, el trazado de circuito digital de la prueba, el trazado de circuito análogo de la prueba, el trazado de circuito de la prueba de la memoria, y la computadora son operables como sola plataforma.