An almost full-scan method and system for detecting faults in circuits can achieve higher fault coverages and significantly shorter test application time as compared with full-scan techniques. A special flip-flop selection of strategy is further described which permits implementation of the almost full-scan BIST method and system.

Quasi pieno-esplori il metodo ed il sistema per la rilevazione dei difetti in circuiti può realizzare gli più alti riempimenti del difetto ed il tempo significativamente più corto di applicazione della prova rispetto a pieno-esplora le tecniche. Una selezione speciale di flip-flop di strategia più ulteriormente è descritta che consente l'esecuzione del quasi pieno-esplora il metodo ed il sistema di BIST.