A method and system for an integrated singulation process for electrically testing semiconductor devices in a strip, singulating the semiconductor devices and inspecting the semiconductor devices. An electrical tester marks a code on the semiconductor devices indicating whether each semiconductor device passed an electrical test. An optical code reader reads the code and stores the test results in memory. A singulation machine singulates the semiconductor devices into individual semiconductor devices and a sorter discards the semiconductor devices which failed the electrical tests. An inspection machine inspects the dimensions of each semiconductor device and a sorter discards the semiconductor devices which failed the inspection. The inspection machine outputs the semiconductor devices which passed both the electrical test and inspection.

Un método y un sistema para un proceso integrado del singulation para eléctricamente probar los dispositivos de semiconductor en una tira, singulating los dispositivos de semiconductor y examinar los dispositivos de semiconductor. Un probador eléctrico marca un código en los dispositivos de semiconductor que indican si cada dispositivo de semiconductor pasó una prueba eléctrica. Un lector de código óptico lee el código y almacena los resultados de la prueba en memoria. Los singulates de una máquina del singulation los dispositivos de semiconductor en dispositivos de semiconductor individuales y un compaginador desechan los dispositivos de semiconductor que fallaron en las pruebas eléctricas. Una máquina de la inspección examina las dimensiones de los descartes de cada dispositivo de semiconductor y de un compaginador los dispositivos de semiconductor que fallaron la inspección. Los rendimientos de la máquina de la inspección los dispositivos de semiconductor que pasaron la prueba eléctrica y la inspección.