An on-chip testing device separately locates must-repairs or preferred-repairs in a row direction and column direction of a memory array. A row counter and a column counter are operated to index the memory array in row-major order, and then in column-major order (or vice versa). A running total of the number of failures is kept for each row and column, when the running total equals or exceeds a predetermined value, the row or column is determined to be a must-repair or a preferred repair. Rows to be repaired are substituted with redundant memory rows and columns to be prepared are substituted with redundant memory columns.

Un dispositivo difficile del su-circuito integrato individua esclusivamente le dov-riparazioni o le prefer-riparazioni in un senso di fila e nel senso della colonna di un allineamento di memoria. Un contatore di fila e un contatore della colonna sono funzionati per spostare ad incrementi l'allineamento di memoria nell'ordine fila-principale ed allora nell'ordine colonna-principale (o viceversa). Un totale corrente del numero di guasti è mantenuto per ogni fila e la colonna, quando il totale corrente è uguale o eccede un valore predeterminato, la fila o la colonna è determinata per essere una dov-riparazione o una riparazione preferita. Le file da riparare si sostituiscono con le file ridondanti di memoria e le colonne da preparare si sostituiscono con le colonne ridondanti di memoria.