A model of a LSSD storage element and non-LSSD storage element interface for use with an automatic test pattern generator has been developed. The model includes a master element, a slave element, and a master observe module. The master observe module alternatively selects the input signal for the master element and the output signal from the slave element.

Een model van een LSSD opslagelement en niet-lssd van het opslagelement interface voor gebruik met een automatische generator van het testpatroon is ontwikkeld. Het model omvat een hoofdelement, een slavenelement, en een meester neemt module waar. De meester neemt waar de module alternatief het inputsignaal voor het hoofdelement en het outputsignaal van het slavenelement selecteert.