A piezoelectric ceramic device is heated so that the temperature is increased to a temperature in the vicinity of the maximum temperature at which the device, when the temperature is returned to ordinary temperature, is returned to substantially the same piezoelectric characteristic before heating. In the state that the piezoelectric ceramic device is heated, and the temperature is increased, at least one of the piezoelectric phase characteristic and the impedance characteristic of the piezoelectric ceramic device is measured. The measurement is compared with a standard characteristic, whereby an internal defect of the piezoelectric ceramic device is detected, based on results of the comparison. For the heating and temperature-increasing, and the measuring, a high frequency measurement signal having a power level that is higher than the rated level of the piezoelectric ceramic device is applied, and simultaneously with the piezoelectric ceramic device itself being dielectric-heated by the application of the high frequency signal, at least one of the piezoelectric phase characteristic and the impedance characteristic is measured.

Um dispositivo cerâmico piezoelectric é aquecido de modo que a temperatura seja aumentada a uma temperatura na vizinhança da temperatura máxima em que o dispositivo, quando a temperatura é retornada à temperatura ordinária, é retornado substancialmente à mesma característica piezoelectric antes de se aquecer. No estado que o dispositivo cerâmico piezoelectric está aquecido, e a temperatura é aumentada, ao menos um da fase piezoelectric característica e do impedance característico do dispositivo cerâmico piezoelectric é medido. A medida é comparada com uma característica padrão, por meio de que um defeito interno do dispositivo cerâmico piezoelectric é detectado, baseada em resultados da comparação. Para o heating e o temperatura-aumento, e a medição, um sinal de alta freqüência da medida tendo um nível do poder que seja mais elevado do que o nível rated do dispositivo cerâmico piezoelectric é aplicado, e simultaneamente com o dispositivo cerâmico piezoelectric próprio queestá sendo aquecido pela aplicação do sinal de alta freqüência, ao menos por uma da fase piezoelectric característica e pela característica do impedance é medido.