The invention refers to a method for calibrating the control of a radiation
device producing electromagnetic radiation or particle radiation in a
rapid prototyping system. The method comprises the steps of arranging a
calibration plate at a defined position in the rapid prototyping system,
the calibration plate having an upper side with a first region and a
second region separate from the first region, the first region being
provided with optically detectable reference marks and the second region
having a medium which is sensitive to the radiation of the radiation
device, producing a test pattern by exposing said medium to said radiation
at predetermined desired positions defined by position coordinate data,
digitizing the first region of the calibration plate with the reference
marks thereon and the second region of the calibration plate having the
test pattern, comparing the digitized reference marks and the digitized
test pattern and calculating and providing correction data for the control
of the radiation device on the basis of the comparison.
La invención refiere a un método para calibrar el control de un dispositivo de la radiación produciendo la radiación electromágnetica o la radiación de la partícula en un sistema prototyping rápido. El método abarca los pasos de arreglar una placa de la calibración en una posición definida en el sistema prototyping rápido, la placa de la calibración que tiene un lado superior con una primera región y una segunda región a parte de la primera región, la primera región que es proporcionada las marcas de referencia ópticamente perceptibles y la segunda región que tiene un medio que sea sensible a la radiación del dispositivo de la radiación, produciendo un patrón de prueba exponiendo el medio dicho a la radiación dicha en las posiciones deseadas predeterminadas definidas por los datos del coordenada de la posición, convirtiendo la primera región de la placa de la calibración con las marcas de referencia sobre eso y la segunda región a digital de la placa de la calibración que tiene el patrón de prueba, comparando convertida a digital la referencia marcas y el patrón de prueba convertido a digital y calcular y abastecimiento de los datos de la corrección para el control del dispositivo de la radiación en base de la comparación.
