A method for testing a data storage system, such system having a host computer coupled to a bank of disk drives through a system interface. The interface includes a plurality of directors and memories interconnected by a plurality of busses for controlling data transfer between the host computer and the bank of disk drives as such data passes through the memories. A portion of the directors is coupled to the host computer. The method includes providing a test printed circuit board having input ports adapted for plugging into a system printed circuit board, such test printed circuit board having a selector section adapted to couple any one of the inputs thereof to a test output on the test printed circuit board. The method includes the steps of: (a) prior to a test mode, removing a director or memory and replacing such removed director or memory with the test printed circuit board; (b) operating the system with the test printed circuit board; (c) selectively coupling the inputs of the test printed circuit board to the test output to examine a signal waveform produced at the test port; and (d) repeating steps (a-c).

Une méthode pour examiner un système de stockage de données, un tel système ayant un ordinateur principal couplé à une banque des unités de disques par une interface de système. L'interface inclut une pluralité de directeurs et de mémoires reliés ensemble par une pluralité d'autobus pour le transfert de paramètres entre l'ordinateur principal et la banque des unités de disques pendant qu'une telle données traversent les mémoires. Une partie des directeurs est couplée à l'ordinateur principal. La méthode inclut fournir une carte électronique d'essai ayant entré des ports adaptés pour brancher à une carte électronique de système, une telle carte électronique d'essai faisant adapter une section de sélecteur pour coupler des n'importe quelles des entrées en à un essai produit sur la carte électronique d'essai. La méthode inclut les étapes de : (a) avant un mode d'essai, enlevant un directeur ou une mémoire et remplaçant un tel directeur ou mémoire enlevé avec la carte électronique d'essai ; (b) fonctionnement du système avec la carte électronique d'essai ; (c) sélectivement couplant les entrées de la carte électronique d'essai au rendement d'essai pour examiner une forme d'onde de signal a produit au port d'essai ; et (d) répétant les étapes (C.A.).