A method and apparata for correcting for pulse width timing error during testing of an integrated circuit are described. The method includes storing in a memory, associated with a selected terminal of an integrated circuit, event timing data pertaining to testing of the integrated circuit. Functional data is provided, pertaining to the testing, and it is determined if the functional data causes a state transition in the integrated circuit, the state transition causing a pulse. If a pulse is created, then the event timing data is adjusted, thereby to produce pulse width adjusted event timing. A test signal is then applied to the selected terminal of the integrated circuit, the test signal including pulse width adjusted event timing. A test program first loads scrambler and sequencer memories with a code representing event timing data and event type data for a number of events that are to occur during a test vector, as specified by the user. According to one embodiment, to implement single value pulse width calibration, additional coding is provided that reflects variations on event timing values compensating for pulse width timing error. Circuitry external to the local event sequencer of the tester analyzes the stream of functional data describing event polarity during every test cycle, and determines if a given bit of functional data ends a "short" pulse. The results of this analysis become part of the data stored in the scrambler memory. These data act as a pointer to select the address in the sequencer memory that contains the correct pulse width adjusted event timing data. According to another embodiment which implements general pulse width calibration, the event sequencer is modified to include pulse width calculation circuitry, which stores event time and event type data for the most recent events and calculates the pulse width of the present event by subtracting the nominal time value of the most recent event of the opposite polarity from the nominal time value of the present event. This pulse width value addresses a lookup table, which provides a corresponding calibration factor, to create pulse width adjusted event timing.

Um método e um apparata para corrigir para o erro do sincronismo da largura do pulso durante testar de um circuito integrado são descritos. O método inclui armazenar em uma memória, associada com um terminal selecionado de um circuito integrado, dados cronometrando do evento que pertencem a testar do circuito integrado. Os dados funcionais são fornecidos, pertencendo a testar, e determina-se se os dados funcionais causarem uma transição do estado no circuito integrado, a transição do estado que causa um pulso. Se um pulso for criado, os dados cronometrando do evento estão ajustados então, desse modo ao sincronismo ajustado largura do evento do pulso do produto. Um sinal do teste é aplicado então ao terminal selecionado do circuito integrado, o sinal do teste including o sincronismo ajustado largura do evento do pulso. Um programa primeiro do teste carrega o scrambler e as memórias do sequencer com um código que representa dados cronometrando do evento e evento datilografam dados para um número de eventos que devem ocorrer durante um vetor do teste, como especificado pelo usuário. De acordo com uma incorporação, executar a única calibração da largura do pulso do valor, coding adicional é contanto que reflete variações nos valores do sincronismo do evento que compensam para o erro do sincronismo da largura do pulso. Os circuitos externos ao sequencer local do evento do verificador analisam o córrego dos dados funcionais que descrevem a polaridade do evento durante cada ciclo do teste, e determinam se um bocado dado de dados funcionais terminar um pulso "curto". Os resultados desta análise transformam-se parte dos dados armazenados na memória do scrambler. Estes dados agem como um ponteiro para selecionar o endereço na memória do sequencer que contem os dados cronometrando ajustados do evento do pulso largura correta. De acordo com uma outra incorporação que execute a calibração geral da largura do pulso, o sequencer do evento é modificado para incluir os circuitos do cálculo da largura do pulso, que armazenam o tempo do evento e o tipo dados do evento para os eventos os mais recentes e calculam a largura do pulso do evento atual subtraindo o valor nominal do tempo do evento o mais recente da polaridade oposta do valor nominal do tempo do evento atual. Este valor da largura do pulso dirige-se a uma tabela do lookup, que forneça um fator correspondente da calibração, para criar o sincronismo ajustado largura do evento do pulso.