First, in the step of analyzing integrated circuit information, integrated circuit information is retrieved and the structure of the circuit is analyzed, thereby creating routing information for each functional block. Next, in the step of analyzing pin allocation information, pin allocation information, including input and output pin connection information for the functional block, is retrieved and the contents thereof are analyzed, thereby creating machine-readable pin combination information. The input pin connection information represents which input pin of the functional block should be connected to each external test data input pin. The output pin connection information represents which output pin of the functional block should be connected to each external test data output pin. Then, in the step of outputting testable integrated circuit information, information about a test data input or output circuit is added to the routing information, which has been analyzed in the step of analyzing integrated circuit information, based on the pin combination information, thereby outputting testable integrated circuit information.

Primero, en el paso de analizar la información del circuito integrado, se recupera la información del circuito integrado y la estructura del circuito se analiza, de tal modo creando la información de encaminamiento para cada bloque funcional. Después, en el paso de analizar el perno información de la asignación, se recupera el perno información de la asignación, incluyendo el perno información de la entrada y de la salida de la conexión para el bloque funcional, y el contenido de eso se analiza, de tal modo creando el perno legible por la máquina información de la combinación. El perno información de la entrada de la conexión representa que el perno de la entrada del bloque funcional se debe conectar con cada perno externo de la entrada de datos de prueba. El perno información de la salida de la conexión representa que el perno de la salida del bloque funcional se debe conectar con cada perno externo de la salida de datos de prueba. Entonces, en el paso de hacer salir la información testable del circuito integrado, la información sobre una entrada de datos de prueba o el circuito de salida se agrega a la información de encaminamiento, que se ha analizado en el paso de analizar la información del circuito integrado, basado en el perno información de la combinación, de tal modo haciendo salir la información testable del circuito integrado.