An optical sample X-ray testing apparatus including an X-ray source which is configured to radiate X-rays including a group of line spectra. At least one line spectrum selecting device is provided between the X-ray source and an optical sample and configured to direct substantially one line spectrum among the group of line spectra from the X-ray source toward the optical sample. An optical characteristics finding device is configured to find optical characteristics of the optical sample based on radiation of the substantially one line spectrum through the line spectrum selecting device onto the optical sample.

Um instrumento testando do raio X ótico da amostra including uma fonte do raio X que seja configurarada para radiate raios X including um grupo da linha spectra. Ao menos uma linha spectrum que seleciona o dispositivo é fornecida entre a fonte do raio X e uma amostra ótica e configurarada para dirigir substancialmente uma linha spectrum entre o grupo da linha spectra da fonte do raio X para a amostra ótica. As características óticas que encontram o dispositivo são configuraradas para encontrar características óticas da amostra ótica baseada na radiação da substancialmente uma linha spectrum através da linha spectrum que seleciona o dispositivo na amostra ótica.