A method and system for non-destructive, reference-free thermographic detection of sub-surface defects uses an infrared camera to capture images of a sample that has been heated and allow to cool to equilibrium temperature. The temperature-time data obtained for each pixel in each image is converted into the logarithmic domain and a least squares fit is conducted on the data to generate a polynomial expression corresponding to the temperature-time data for a given pixel. This polynomial expression can be transformed into the original time domain to obtain temperature-time data with improved signal-to-noise characteristics. Defects can be detected by observing the zero-crossing characteristic of the second derivative of the polynomial.

Um método e um sistema para a deteção thermographic non-destructive, referência-livre de defeitos subsuperficiais usam uma câmera infravermelha capturar imagens de uma amostra que seja aquecida e reservá-las para refrigerar à temperatura do equilíbrio. Os dados do temperatura-tempo obtidos para cada pixel em cada imagem são convertidos no domínio logarítmico e menos quadrados cabidos são conduzidos nos dados para gerar uma expressão polynomial que corresponde aos dados do temperatura-tempo para um pixel dado. Esta expressão polynomial pode ser transformada no domínio de tempo original para obter dados do temperatura-tempo com características signal-to-noise melhoradas. Os defeitos podem ser detectados observando o zero-cruzamento característico do segundo derivative do polynomial.