A system and process for classifying a piece of material of unknown
composition at high speeds, where the system connected to a power supply.
The piece is irradiated with first x-rays from an x-ray source, causing
the piece to fluoresce x-rays. The fluoresced x-rays are detected with an
x-ray detector, and the piece of material is classified from the detected
fluoresced x-rays. Detecting and classifying may be cumulatively performed
in less than one second. An x-ray fluorescence spectrum of the piece of
material may be determined from the detected fluoresced x-rays, and the
detection of the fluoresced x-rays may be conditioned such that accurate
determination of the x-ray fluorescence spectrum is not significantly
compromised, slowed or complicated by extraneous x-rays. The piece of
material may be classified by recognizing the spectral pattern of the
determined x-ray fluorescence spectrum. The piece of material may be
flattened prior to irradiation and detection. The x-ray source may
irradiate the first x-rays at a high intensity, and the x-ray source may
be an x-ray tube.
Ein System und ein Prozeß für das Einstufen eines Stückes Materials des unbekannten Aufbaus mit hohen Geschwindigkeiten, in denen das System an ein Spg.Versorgungsteil anschloß. Das Stück wird mit ersten Röntgenstrahlen von einer Röntgenstrahlquelle bestrahlt und veranläßt das Stück, Röntgenstrahlen zu fluoreszieren. Die fluoreszierten Röntgenstrahlen werden mit einem Röntgenstrahldetektor ermittelt, und das Stück des Materials wird von den ermittelten fluoreszierten Röntgenstrahlen eingestuft. Das Ermitteln und das Einstufen können in weniger als einer Sekunde kumulativ durchgeführt werden. Ein Röntgenstrahlfluoreszenzspektrum des Stückes des Materials kann von den ermittelten fluoreszierten Röntgenstrahlen festgestellt werden, und der Abfragung der fluoreszierten Röntgenstrahlen kann bedungen werden so, daß genaue Ermittlung des Röntgenstrahlfluoreszenzspektrums nicht erheblich durch äußere Röntgenstrahlen verglichen, verlangsamt oder erschwert wird. Das Stück des Materials kann eingestuft werden, indem man das spektrale Muster des entschlossenen Röntgenstrahlfluoreszenzspektrums erkennt. Das Stück des Materials kann vor Bestrahlung und Abfragung flachgedrückt werden. Die Röntgenstrahlquelle kann die ersten Röntgenstrahlen bei einer hohen Intensität bestrahlen, und die Röntgenstrahlquelle kann ein Röntgenstrahlschlauch sein.