An imaging sensor includes a defect marker allowing an imaging device in which the imaging sensor is installed to determine which pixels in the CMOS sensor are defective. During manufacturing, the pixels in the imaging sensor are tested. Defect markers are used for defective pixels, preferably using a non-volatile marking technique. After the imaging sensor is installed in the imaging device, the imaging device reads the defect markers from the imaging sensor to determine the defective pixels. The defect markers are read by exposing the pixels in the imaging sensor to photons. Eventually, all pixels in the imaging sensor should show some exposure. Pixels that still read as unexposed are then defective pixels. The imaging device can then compensate for defective pixels: e.g., by interpolating the defective pixels from their neighbors.

Un sensor de la proyección de imagen incluye un marcador del defecto permitiendo un dispositivo de la proyección de imagen en el cual el sensor de la proyección de imagen esté instalado para determinarse qué pixeles en el sensor del Cmos son defectuosos. Durante la fabricación, los pixeles en el sensor de la proyección de imagen se prueban. Los marcadores del defecto se utilizan para los pixeles defectuosos, preferiblemente usando una técnica permanente de la marca. Después de que el sensor de la proyección de imagen esté instalado en el dispositivo de la proyección de imagen, el dispositivo de la proyección de imagen lee los marcadores del defecto del sensor de la proyección de imagen para determinar los pixeles defectuosos. Los marcadores del defecto son leídos exponiendo los pixeles en el sensor de la proyección de imagen a los fotones. Eventual, todos los pixeles en el sensor de la proyección de imagen deben demostrar una cierta exposición. Pixeles que todavía leyeron como no expuesto son entonces pixeles defectuosos. El dispositivo de la proyección de imagen puede entonces compensar para los pixeles defectuosos: e.g., interpolando los pixeles defectuosos de sus vecinos.