Measurement system and process for measuring a cross-direction profile of specific properties of at least one of a material web and a coating on the material web. The system includes at least one stationary cross-direction profile measurement device having at least one radiation source adapted to irradiate the at least one of the material web and the coating on the material web in a plurality of defined and different wavelength ranges, and at least one sensor adapted to measure the intensity of radiation affected by the at least one of the material web and the coating on the material web. The system also includes at least one measurement and/or evaluation electronics system. Each sensor detects only one of the defined different wavelength ranges of the radiation at a specific point in time. The process includes irradiating the at least one of the material web and the coating on the material web with a plurality of defined and different wavelength ranges via at least one radiation source, and measuring an intensity of radiation affected by the at least one of the material web and the coating on the material web with at least one sensor. Only one of the defined different wavelength ranges of the radiation is measured by each sensor at a specific point in time.

Σύστημα και διαδικασία μέτρησης για ένα σχεδιάγραμμα διαγώνιος-κατεύθυνσης των συγκεκριμένων ιδιοτήτων τουλάχιστον ένας από έναν υλικό Ιστό και ενός επιστρώματος στον υλικό Ιστό. Το σύστημα περιλαμβάνει σε λιγότερη μια στάσιμη συσκευή μέτρησης σχεδιαγράμματος διαγώνιος-κατεύθυνσης σε λιγότερη μια πηγή ακτινοβολίας προσαρμομένος για να ακτινοβολήσει σε λιγότερος ένας από τον υλικό Ιστό και το επίστρωμα στον υλικό Ιστό σε μια πολλαπλότητα των καθορισμένων και διαφορετικών σειρών μήκους κύματος, και σε λιγότερο έναν αισθητήρα που προσαρμόζεται για να μετρήσει την ένταση της ακτινοβολίας που επηρεάζονται από σε λιγότερος ένας από τον υλικό Ιστό και το επίστρωμα στον υλικό Ιστό. Το σύστημα περιλαμβάνει επίσης τουλάχιστον ένα σύστημα ηλεκτρονικής μέτρησης ή/και αξιολόγησης. Κάθε αισθητήρας ανιχνεύει μόνο μιας από τις καθορισμένες διαφορετικές σειρές μήκους κύματος της ακτινοβολίας σε ένα συγκεκριμένο χρονικό σημείο. Η διαδικασία περιλαμβάνει την ακτινοβόληση σε λιγότερος ένας από τον υλικό Ιστό και το επίστρωμα στον υλικό Ιστό με μια πολλαπλότητα των καθορισμένων και διαφορετικών σειρών μήκους κύματος μέσω σε λιγότερη μια πηγή ακτινοβολίας, και τη μέτρηση μιας έντασης της ακτινοβολίας που επηρεάζονται από σε λιγότερος ένας από τον υλικό Ιστό και του επιστρώματος στον υλικό Ιστό με σε λιγότερο έναν αισθητήρα. Μόνο μια από τις καθορισμένες διαφορετικές σειρές μήκους κύματος της ακτινοβολίας μετριέται από κάθε αισθητήρα σε ένα συγκεκριμένο χρονικό σημείο.