A process for locating defective elements in an integrated circuit. The integrated circuit is modelled in the form of a tree formed of nodes and oriented arcs. Measurements are performed at various nodes of the circuit by applying a sequence of tests at the input of the circuit. The nodes to be tested are determined recursively as a function of the result of the tests previously performed. Each new test node is such that the number of its ancestors is substantially equal to the number of its descendants.

Ein Prozeß für das Errichten der defekten Elemente in einer integrierten Schaltung. Die integrierte Schaltung wird in Form eines Baums modelliert, der von den Nullpunkten und von orientierten Bogen gebildet wird. Maße werden an den verschiedenen Nullpunkten des Stromkreises durchgeführt, indem man eine Reihenfolge der Tests am Eingang des Stromkreises anwendet. Die geprüft zu werden Nullpunkte werden rekursiv festgestellt, wie eine Funktion des Resultats der Tests vorher durchführte. Jeder neue Testnullpunkt ist so, daß die Zahl seinen Vorfahren der Zahl seinen Nachkommen im wesentlichen gleich ist.