A system and method for analyzing a baseline geometry and, optionally, a modified geometry. The method can include generating a numerical representation of a baseline geometry having baseline elements identified with first identifiers or element identifiers, and then assigning second identifiers or analyzer identifiers to the elements. A selected characteristic of the geometry, such as structural loading, is analyzed with reference to the second or analyzer identifiers. At least one of the elements of the geometry can then be altered in a manner that at least partially automatically adjusts the surrounding geometry, and the same first identifier or element identifier is associated with the altered element as was associated with the baseline, unaltered element. The altered geometry can be analyzed with respect to a third identifier (or another analyzer identifier) and a correspondence between the identifiers, the baseline element, and the altered element can be established and maintained. Accordingly, the boundary conditions and/or the mesh applied to the baseline geometry can be automatically applied to the altered geometry by referring to the first or element identifiers. Therefore, the time and effort required to analyze the altered geometry can be reduced when compared to the effort typically required by conventional methods.

Een systeem en een methode om een basislijnmeetkunde en, naar keuze, een gewijzigde meetkunde te analyseren. De methode kan het produceren van een numerieke vertegenwoordiging van een basislijnmeetkunde omvatten die basislijnelementen heeft die met eerste herkenningstekens of elementenherkenningstekens worden geïdentificeerd, en dan tweede herkenningstekens of analysatorherkenningstekens toewijst aan de elementen. Een geselecteerd kenmerk van de meetkunde, zoals structurele lading, wordt geanalyseerd met betrekking tot de tweede of analysatorherkenningstekens. Minstens één van de elementen van de meetkunde kan dan op een manier worden veranderd die minstens gedeeltelijk automatisch de omringende meetkunde aanpast, en het zelfde eerste herkenningsteken of het elementenherkenningsteken worden geassocieerd met het veranderde element zoals met de basislijn werd geassocieerd, onveranderd element. De veranderde meetkunde kan met betrekking tot een derde herkenningsteken (of een ander analysatorherkenningsteken) en een correspondentie tussen de herkenningstekens worden geanalyseerd, het basislijnelement, en het veranderde element kan worden gevestigd en worden gehandhaafd. Dienovereenkomstig, kunnen worden toegepast de grensvoorwaarden en/of het netwerk dat op de basislijnmeetkunde automatisch op de veranderde meetkunde worden toegepast door naar de eerste of elementenherkenningstekens te verwijzen. Daarom kunnen de tijd en de inspanning die wordt vereist om de veranderde meetkunde te analyseren worden verminderd wanneer vergeleken bij de inspanning die typisch door conventionele methodes wordt vereist.

 
Web www.patentalert.com

< Data processing method and apparatus for supporting analysis/judgement

< Intelligent compilation of materialized view maintenance for query processing systems

> Apparatus and method for a compositional decision support reasoning system

> Inexpensive computer-aided learning methods and apparatus for learners

~ 00062