An inspecting apparatus and method for inspecting cell badness in a liquid crystal display device that is adaptive for shortening an inspection time and improving a work efficiency in a bad pixel inspecting work as well as improving a yield in a repairing work. In the apparatus, a pointing device freely moves a cursor emerging on the screen of the liquid crystal display panel in all the direction to acquire co-ordinate values of bad pixels. A file server stores the co-ordinate value of the bad pixels acquired by the pointing device. Accordingly, an co-ordinate value acquisition work of the bad pixels emerging on the liquid crystal display panel can be rapidly made to shorten an inspection time, and the acquired co-ordinate value can be automatically stored and automatically transmitted to a repairing device to improve a yield in the repair work.

Ein kontrollierender Apparat und eine Methode für das Kontrollieren von von Zelle Badness in einer Vorrichtung der Flüssigkristallanzeige, die für die Verkürzung einer Kontrolle Zeit und das Verbessern einer Arbeit Leistungsfähigkeit in einem schlechten Pixel anpassungsfähig ist, das Arbeit kontrolliert, sowie, ein Ergebnis in einer reparierenarbeit verbessernd. Im Apparat bewegt eine Zeigevorrichtung frei einen Cursor, der auf dem Schirm der Verkleidung der Flüssigkristallanzeige in der ganzer Richtung auftaucht, um zu erwerben, koordinieren Werte der schlechten Pixel. Ein Akte Bediener speichert den Koordinierung Wert der schlechten Pixel, die durch die Zeigevorrichtung erworben werden. Dementsprechend kann eine Koordinierung Wert-Erwerb Arbeit der schlechten Pixel, die auf der Verkleidung der Flüssigkristallanzeige auftauchen, schnell gebildet werden, um eine Kontrolle Zeit zu verkürzen, und erworben koordinieren Wert können einer reparierenvorrichtung automatisch gespeichert werden und automatisch übertragen werden, um ein Ergebnis in der Reparaturarbeit zu verbessern.

 
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> Display device comprises a plurality of first data drive circuits connected to N data lines and second data driving circuit connected to M data lines, wherein M

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