A method of accurately determining the location of dots of sensed image data amongst an array of dots of image data in a fault tolerant manner, said data stored at a high pitch rate on a card and subject to rotations, warping and marking effects, said method comprising the steps of: processing the image data in a column by column format; recording the dot pattern of previously processed columns of pixels; generating an expected dot pattern at a current column position from the recorded dot pattern of previously processed pixels; comparing the expected dot pattern with an actual dot pattern of sensed image data at said current column position; if said comparison produces a match within a predetermined error, utilising said current column position as an actual dot position otherwise altering said current column position to produce a better fit to said expected dot pattern to thereby produce new actual dot position, and utilizing said actual dot position of the dot at a current column position in the determining of dot location of dots of subsequent columns.

Un metodo esattamente di determinazione della posizione dei puntini dei dati percepiti di immagine fra un allineamento dei puntini dei dati di immagine in un modo tollerante del difetto, dati detti memorizzati ad un alto passo valuta su una scheda e conforme agli effetti di rotazioni, di deformazione e contrassegnare, metodo ad esempio che contiene i punti: procedendo i dati di immagine in una colonna dalla colonna formatti; registrazione del modello del puntino delle colonne precedentemente procedute dei pixel; generazione del modello previsto del puntino ad un'attuale posizione della colonna dal modello registrato del puntino dei pixel precedentemente proceduti; paragonando il modello previsto del puntino ad un modello reale del puntino dei dati percepiti di immagine all'attuale posizione detta della colonna; se detto il confronto produce un fiammifero entro i limiti di un errore predeterminato, utilizzante l'attuale posizione detta della colonna come posizione reale del puntino che altera al contrario l'attuale posizione detta della colonna per produrre una misura migliore al modello previsto detto del puntino quindi per produrre la nuova posizione reale del puntino ed utilizzante la posizione reale detta del puntino del puntino ad un'attuale posizione della colonna nella determinazione della posizione del puntino dei puntini delle colonne successive.