A system or method for electronically simulating fabrics to assist in grading yarn and fabric qualities, in which the diameter or other qualities of one or more yarn samples along the total length of the samples is measured, and representations of the measured yarn qualities are evaluated in a fabric pattern to assist evaluation of the effects of the yarn quality variations on fabric which potentially would be produced from the sampled yarn.

Een systeem of een methode om stoffen elektronisch te simuleren om in het sorteren van garen en stoffenkwaliteiten, waarin de diameter of andere kwaliteiten van één of meerdere garensteekproeven langs de totale lengte van de steekproeven worden gemeten, en wordt vertegenwoordiging van de gemeten garenkwaliteiten bij te wonen geëvalueerd in een stoffenpatroon om evaluatie van de gevolgen bij te staan van de variaties van de garenkwaliteit voor stof die potentieel uit het bemonsterde garen worden geproduceerd.