Method for identification of plastic materials of interest by spectroscopic measurements, comprising the steps of measuring a sample and providing a sample spectrum; providing reference spectra for a given group of reference materials of interest, determining spectral distances between sample spectrum and reference spectra, material identification by associating the sample to the material having the reference spectrum with the smallest spectral distance to the sample spectrum. In this method a multi-level measurement is conducted, wherein in each level the number of possible materials is further limited. In a first level at least 2 sub-groups and in all levels starting with a second level at least one sub-group of possible materials are defined, wherein one sub-group in the first level comprises all possible materials that are easily distinguishable and at least one further sub-group in the first level comprises materials that are difficult to distinguish from each other. To each sub-group at least one identification frequency range is associated, and said spectral distances are only determined within said at least one identification frequency range in each relevant sub-group of each level and only with respect to reference spectra of materials being comprised in the relevant sub-group.

Μέθοδος για τον προσδιορισμό των πλαστικών υλικών ενδιαφέροντος από τις φασματοσκοπικές μετρήσεις, που περιλαμβάνουν τα βήματα της μέτρησης ενός δείγματος και της παροχής ενός φάσματος δειγμάτων παρέχοντας τα φάσματα αναφοράς για μια δεδομένη ομάδα υλικών αναφοράς ενδιαφέροντος, που καθορίζει φασματικές τις αποστάσεις μεταξύ των φασμάτων φάσματος και αναφοράς δειγμάτων, υλικός προσδιορισμός με την ένωση του δείγματος στο υλικό που έχει το φάσμα αναφοράς με τη μικρότερη φασματική απόσταση στο φάσμα δειγμάτων. Σε αυτήν την μέθοδο μια πολλαπλής στάθμης μέτρηση διευθύνεται, όπου σε κάθε επίπεδο ο αριθμός πιθανών υλικών είναι περαιτέρω περιορισμένος. Σε ένα πρώτο επίπεδο τουλάχιστον 2 υποομάδες και σε όλα τα επίπεδα αρχίζοντας από ένα δεύτερο επίπεδο τουλάχιστον μια υποομάδα πιθανών υλικών καθορίζονται, όπου μια υποομάδα στο πρώτο επίπεδο περιλαμβάνει όλα τα πιθανά υλικά που είναι εύκολα διακριτά και τουλάχιστον μια περαιτέρω υποομάδα στο πρώτο επίπεδο περιλαμβάνει τα υλικά που είναι δύσκολο να διακριθούν το ένα από το άλλο. Σε κάθε υποομάδα τουλάχιστον ένα φάσμα συχνότητας προσδιορισμού συνδέεται, και οι εν λόγω φασματικές αποστάσεις καθορίζονται μόνο μέσα εν λόγω τουλάχιστον ένα φάσμα συχνότητας προσδιορισμού σε κάθε σχετική υποομάδα κάθε επιπέδου και μόνο όσον αφορά τα φάσματα αναφοράς των υλικών που αποτελούνται στη σχετική υποομάδα.