An improved system and method for testing high frequency electronic
devices. The improvement allows characteristics such as phase noise to be
measured while a device under test changes operating frequency (frequency
hops) at its normal rate. In accordance with the invention, a dynamic
controller programs the frequencies of first and second frequency
synthesizers at precisely controlled instants of time. For each of the
first and second synthesizers, the dynamic controller includes a frequency
memory for storing a sequence of frequency data, a counter for sequencing
through the frequency memory, and a timing source for activating the
counter. Data stored at each location of the frequency memory represents a
frequency to which the respective synthesizer is to be programmed. The
output from the first synthesizer is provided to the input of a device
under test (DUT), in response to which the DUT generates and output
signal. A mixer receives at its inputs the output of the DUT and the
output of the second synthesizer. The mixer combines the two inputs to
generate a test signal. The test signal can then be digitized, and the
resulting digital samples can be evaluated. Under control of the timing
source, the dynamic controller steps through different addresses of the
frequency memories for the first and second synthesizers. At each memory
location, new data are sent to the synthesizers at precisely controlled
instants of time. New frequencies are established, and the test signal is
again digitized. Characteristics of the DUT can be determined from the
digital samples at each frequency that the DUT assumes.
Un sistema y un método mejorados para probar los dispositivos electrónicos de alta frecuencia. La mejora permite que las características tales como ruido de la fase sean medidas mientras que un dispositivo bajo prueba cambia la frecuencia de funcionamiento (saltos de la frecuencia) en su tarifa normal. De acuerdo con la invención, un regulador dinámico programa las frecuencias de primero y los segundos sintetizadores de la frecuencia en los instantes exacto controlados del tiempo. Para cada uno de los primeros y segundos sintetizadores, el regulador dinámico incluye una memoria de la frecuencia para almacenar una secuencia de los datos de la frecuencia, un contador para ordenar con la memoria de la frecuencia, y una fuente de la sincronización para activar el contador. Los datos almacenados en cada localización de la memoria de la frecuencia representan una frecuencia a la cual el sintetizador respectivo deba ser programado. La salida del primer sintetizador se proporciona a la entrada de un dispositivo bajo prueba (DUT), en respuesta a la cual el DUT genera y señal de salida. Un mezclador recibe en sus entradas la salida del DUT y la salida del segundo sintetizador. El mezclador combina las dos entradas para generar una señal de la prueba. La señal de la prueba puede entonces ser convertida a digital, y las muestras digitales que resultan pueden ser evaluadas. Bajo control de la fuente de la sincronización, el regulador dinámico camina con diversas direcciones de las memorias de la frecuencia para los primeros y segundos sintetizadores. En cada posición de memoria, los nuevos datos se envían a los sintetizadores en los instantes exacto controlados del tiempo. Se establecen las nuevas frecuencias, y la señal de la prueba se convierte a digital otra vez. Las características del DUT se pueden determinar de las muestras digitales en cada frecuencia que el DUT asume.
