An integrated circuit device is disclosed having a boundary scan chain and a hardwired BIST unit that is configurable via the control circuitry for the boundary scan chain. In one embodiment, the device includes application logic, a BIST unit, a boundary scan chain, a register, and a test access port. The application logic is the logic that provides the intended function of the chip. The BIST unit is configured to apply test patterns to the application logic to verify its functionality. The boundary scan chain is configured to sample input signals to the application logic and to control output signals from the application logic. The register stores an operational mode parameter for the BIST. The test access port provides external access to the boundary scan chain and the register, and is configured to control a clock signal to the BIST unit in accordance with the BIST operational mode parameter.

Показано приспособление интегрированной цепи имеющ цепь развертки границы и hardwired блок BIST configurable через сети управления для цепи развертки границы. В одно воплощение, приспособление вклюает логику применения, блок BIST, цепь развертки границы, регистр, и порт доступа испытания. Логикой применения будет логика обеспечивает предназначенную функцию обломока. Блок BIST установлен для того чтобы приложить телевизионнаяа испытательная таблица к логике применения для проверки своей функциональности. Цепь развертки границы установлена для того чтобы попробовать входные сигналы к логике применения и к выходным сигналам управления от логики применения. Регистр хранит параметр режима работы для BIST. Порт доступа испытания обеспечивает внешний доступ к цепи развертки границы и регистру, и установлен для того чтобы контролировать сигнал часов к блоку BIST в соответствии с параметром режима работы BIST.