An automatic test apparatus for assuring quality and reliability of semiconductor integrated circuit devices comprising a computerized tester controller performing virtual timing, formatting, and pattern generation for testing said devices; and a test head controlled by the controller, comprising pin electronics, dc subsystem, and support for self-testing built into the circuit. The computerized tester controller comprises pattern sequence control, pattern memory, scan memory, timing system and driver signal formatter, thereby executing virtually high speed functional tests based on test patterns, combined with ac parametric tests of said devices. Furthermore, the computerized tester controller dynamically transforms data stored in the computer into instructions for the test head and into pattern sequence matched to the digital function stimulus and response required by the design of the devices.

Автоматический прибор испытания для убеждать качества и надежности приспособлений интегрированной цепи полупроводника состоя из компьютеризированного регулятора тестера выполняя фактически время, форматизацию, и поколение картины для испытывая сказанных приспособлений; и головка испытания контролируемая регулятором, состоя из электроники штыря, подсистемы dc, и поддержки для собственн-ispytyvat6 построенной в цепь. Компьютеризированный регулятор тестера состоит из управления последовательности картины, памяти картины, памяти развертки, приурочивая системы и formatter сигнала водителя, таким образом исполняя фактически высокоскоростные функциональные испытания основанные на телевизионнаяа испытательная таблица, совмещенные с испытаниями ac параметрическими сказанных приспособлений. Furthermore, компьютеризированный регулятор тестера dynamically преобразовывает данные, котор хранят в компьютере в инструкции для головки испытания и в последовательность картины сопрягаемую к цифровым стимулу и реакции функции необходим конструкцией приспособлений.