An integrated circuit includes an embedded memory device and an on-chip test circuit. The on-chip test circuit includes a multiplexer and one or more I/O circuits. The multiplexer allows the I/O circuits to interface with a plurality of inputs and outputs associated with the embedded memory device. As a result, the embedded memory device in the integrated circuit may be tested or repaired after the embedded memory array portion of the integrated circuit is formed, yet prior to fabrication of dedicated input/output circuitry. This allows evaluation of the embedded memory device in the integrated circuit prior to committing resources to complete fabrication of the entire integrated circuit.

Eine integrierte Schaltung schließt ein eingebettetes größtintegriertes Speicherbauelement und einen Aufspan Teststromkreis ein. Der Aufspan Teststromkreis schließt einen Mehrfachkoppler und ein einen oder mehr I/O Stromkreise ein. Der Mehrfachkoppler läßt die I/O Stromkreise an eine Mehrzahl der Eingänge und der Ausgänge anschließen, die mit dem eingebetteten größtintegrierten Speicherbauelement verbunden sind. Infolgedessen kann das eingebettete größtintegrierte Speicherbauelement in der integrierten Schaltung, nachdem der eingebettete Gedächtnisreihe Teil der integrierten Schaltung gebildet ist, dennoch vor Herstellung des engagierten Input/Output Schaltkreises geprüft werden oder repariert werden. Dieses erlaubt Auswertung des eingebetteten größtintegrierten Speicherbauelements in der integrierten Schaltung vor festlegenbetriebsmitteln zur kompletten Herstellung der gesamten integrierten Schaltung.