A method for generating technology data files for use by at least one chip
and circuit analysis tools begins by accepting a user analysis request for
a specific chip and circuit analyses. The design automation tool required
for the requested analysis is then selected. A standard, generic
technology data file(TDF) is converted to a custom TDF specified for a
given design analysis tool from a set of TDF formatting rules for the
given design analysis tool. The chip coordinate references, process
parameters and line segment layout data to be tested are extracted from a
physical design data layout file. The line segment layout data of a
standard wafer test site for the foundry/process selected is extracted
from a circuit simulation model of the desired foundry/process. The design
automation tool is executed using the foundry/process and line segment
layout data as requested in the user analysis request. An analysis
specified by said user analysis request with the selected design
automation tool is executed using the foundry/process and line segment
layout data of the standard wafer test site. The results of the analysis
using the foundry/process and line segment layout data of the standard
wafer test site are compared with the actual data describing the test site
function. Reports are issued describing the success of the analysis.
Метод для производить архивы данных технологии for use by по крайней мере один обломок и инструменты анализа цепи начинает путем признавать запрос анализа потребителя для специфически обломока и анализов цепи. Инструмент автоматизации конструкции необходим для спрошенного анализа после этого выбран. Стандартное, родовое file(TDF) данным по технологии преобразовано к таможне TDF определенное для, котор дали инструмента проверка конструкции от комплекта правил форматизации TDF для, котор дали инструмента проверка конструкции. Справки координаты обломока, отростчатые параметры и данные по плана отрезока линии, котор нужно испытать извлечены от физического архива плана проектныа данные. Данные по плана отрезока линии стандартного места испытания вафли для выбранного foundry/process извлечены от симуляционной модели цепи заданного foundry/process. Исполнен инструмент автоматизации конструкции использующ данные по плана foundry/process и отрезока линии как спрошено в запросе анализа потребителя. Исполнен анализ определенный сказанным запросом анализа потребителя с выбранным инструментом автоматизации конструкции использующ foundry/process и данные по плана отрезока линии стандартного места испытания вафли. Результаты анализа использующ foundry/process и данных по плана отрезока линии стандартного места испытания вафли сравнены при фактические данные описывая функцию места испытания. Выданы рапорты описывая успех анализа.
