An x-ray interferometer for analyzing high density plasmas and optically opaque materials includes a point-like x-ray source for providing a broadband x-ray source. The x-rays are directed through a target material and then are reflected by a high-quality ellipsoidally-bent imaging crystal to a diffraction grating disposed at 1.times. magnification. A spherically-bent imaging crystal is employed when the x-rays that are incident on the crystal surface are normal to that surface. The diffraction grating produces multiple beams which interfere with one another to produce an interference pattern which contains information about the target. A detector is disposed at the position of the image of the target produced by the interfering beams.

Un interféromètre de rayon X pour analyser les plasmas à haute densité et optiquement les matériaux opaques inclut a point-comme la source de rayon X pour fournir une source à bande large de rayon X. Les rayons X sont dirigés par un matériel de cible et puis sont reflétés par un de haute qualité ellipsoidally-ont plié le cristal de formation image à un réseau de diffraction disposé au rapport optique 1.times.. Sphérique-a plié le cristal de formation image est utilisé quand les rayons X qui sont incident sur la surface en cristal sont normaux sur cette surface. Le réseau de diffraction produit les faisceaux multiples qui interfèrent entre eux pour produire un modèle d'interférence qui contient des informations sur la cible. Un détecteur est disposé à la position de l'image de la cible produite par les faisceaux d'intervention.