In defect detecting method for detecting defect of an optical fiber to be measured, in which a laser beam is illuminated onto an optical fiber to be measured from a direction transverse to an optical axis of the fiber to check intensity distribution of forward scattering light permeated through within the optical fiber and scattered, and the defect of the optical fiber to be measured is detected on the basis of a pattern of the intensity distribution, the pattern of the intensity distribution is subjected to a smoothing process having weak smoothness and a smoothing process having strong smoothness to form first and second patterns, respectively, and a judging pattern is formed on the basis of a difference or the quotient between the first and second patterns, and the defect of the optical fiber to be measured is detected by evaluating magnitude of the judging pattern. The pattern of the intensity distribution is subjected to Fourier transform to form a frequency spectrum pattern, and the frequency spectrum pattern is evaluated by using double logarithmic axis, and a judging curve having high contributing rate to the frequency spectrum pattern is applied to the frequency spectrum pattern to seek dispersion of the frequency spectrum pattern from the judging curve, and the defect of the optical fiber to be measured is detected on the basis of magnitude of the dispersion.

Im Defekt wird das Ermitteln der Methode für das Ermitteln des Defektes einer optischen gemessen zu werden Faser, in der ein Laserstrahl auf eine optische, die belichtet wird zu einer optischen Mittellinie der Faser, um Intensität Verteilung von einer Richtung gemessen zu werden Faser, von innerhalb der optischen Faser das durch durchdrungene und zerstreute Licht vorwärts zerstreuen zu überprüfen quer ist, und des Defektes der optischen gemessen zu werden Faser auf der Grundlage von ein Muster der Intensität Verteilung ermittelt, wird das Muster der Intensität Verteilung einem glatt machenden Prozeß unterworfen, der schwache Glattheit hat und ein glatt machender Prozeß, der die starke Glattheit, zum sich zuerst zu bilden und zweite Muster, beziehungsweise und ein urteilendes Muster hat, wird gebildet auf der Grundlage von einem Unterschied oder vom Quotienten zwischen den ersten und zweiten Mustern und vom Defekt der optischen gemessen zu werden Faser wird ermittelt, indem man Größe des urteilenden Musters auswertet. Das Muster der Intensität Verteilung wird Fourier-Transformation unterworfen, um ein Frequenzspektrummuster zu bilden, und das Frequenzspektrummuster wird ausgewertet, indem man doppelte logarithmische Mittellinie verwendet, und eine urteilende Kurve, die Höhe beitragende Rate zum Frequenzspektrummuster hat, wird am Frequenzspektrummuster zur Suchvorgangzerstreuung des Frequenzspektrummusters von der urteilenden Kurve angewendet, und der Defekt der optischen gemessen zu werden Faser wird auf der Grundlage von Größe der Zerstreuung ermittelt.