A storage system is described that includes a controller and a disk array. The disk array includes at least a first and a second storage area. The first storage area is associated with a first mean time to failure (MTTF) and the second storage area is associated with a second MTTF. The controller operates to test the first storage area at a first frequency and the second storage area at a second frequency. The first frequency and the second frequency are each based upon the first and second MTTF so as to optimize the overall reliability of the storage system.

Ein Speichersystem wird beschrieben, das einen Steuerpult und eine Scheibe Reihe einschließt. Die Scheibe Reihe schließt mindestens einen ersten und zweiten Speicherbereich ein. Der erste SpeicherbereichIST mit einem ersten Mittelmal zum Ausfall (MTTF) verbunden und der zweite SpeicherbereichIST mit einem zweiten MTTF verbunden. Der Steuerpult funktioniert, um den ersten Speicherbereich bei einer ersten Frequenz und den zweiten Speicherbereich zu prüfen bei einer zweiten Frequenz. Die erste Frequenz und die zweite Frequenz jede basieren nach dem ersten und zweiten MTTF, um die gesamte Zuverlässigkeit des Speichersystems zu optimieren.