A contactor is used for testing an integrated circuit electronic component provided with a plurality of electrodes. The contactor includes an insulating base material provided with holes formed at positions corresponding to the electrodes, a first conductive layer having contacts which are plastically deformed portions of the first conductive layer, and reinforcement members provided on the contacts on a first surface of the contacts. The first surface of the contacts is facing towards the holes. The contacts are provided at positions corresponding to the electrodes for enabling an electrical connection to the electronic component and are protruded from the insulating base material.

Ένας επαφέας χρησιμοποιείται για τη δοκιμή ενός ηλεκτρονικού τμήματος ολοκληρωμένων κυκλωμάτων που παρέχεται μια πολλαπλότητα των ηλεκτροδίων. Ο επαφέας περιλαμβάνει ένα υλικό μονώνοντας βάσεων που παρέχεται τις τρύπες που διαμορφώνονται στις θέσεις που αντιστοιχούν στα ηλεκτρόδια, ένα πρώτο αγώγιμο στρώμα που έχει τις επαφές που είναι πλαστικά παραμορφωμένες μερίδες του πρώτου αγώγιμου στρώματος, και μέλη ενίσχυσης που παρέχονται στις επαφές σε μια πρώτη επιφάνεια των επαφών. Η πρώτη επιφάνεια των επαφών αντιμετωπίζει προς τις τρύπες. Οι επαφές παρέχονται στις θέσεις που αντιστοιχούν στα ηλεκτρόδια για τη διευκόλυνση μιας ηλεκτρικής σύνδεσης στο ηλεκτρονικό συστατικό και προεξέχονται από το υλικό μονώνοντας βάσεων.