A low capacitance probe contact has electrically conductive contacts having
fingers with opposing interior flat surfaces forming a slit there between.
The fingers extend in a first direction with a mounting member extending
in the opposite direction having a flat surface that is parallel to the
flat surfaces of the fingers. The first and second electrically conductive
contacts are secured to respective first and second electrically
conductive contact pads formed on a substrate with the flat surfaces of
the mounting members being positioned on the contact pads. The substrate
and the electrically conductive contacts are captured within a housing
having first and second members. One member has a base and extending
sidewalls forming a recess that receives the substrate and the
electrically conductive contacts and the other member has a periphery
coextensive with the first member to capture the substrate and the
electrically conductive contacts therein.
Un bas contact de sonde de capacité a électriquement les contacts conducteurs avoir des doigts avec s'opposer aux surfaces plates intérieures formant une fente là entre. Les doigts se prolongent dans une première direction avec un membre de support se prolongeant dans la direction opposée ayant une surface plate qui est parallèle aux surfaces plates des doigts. Les premiers et deuxièmes électriquement contacts conducteurs sont fixés aux premières et en second lieu électriquement conductrices garnitures respectives de contact formées sur un substrat avec les surfaces plates des membres de support étant placés sur les garnitures de contact. Le substrat et les contacts électriquement conducteurs sont capturés chez un logement ayant d'abord et les deuxièmes membres. Un membre a une base et prolonger des parois latérales formant une cavité qui reçoit le substrat et les contacts électriquement conducteurs et l'autre membre a une périphérie coextensive avec le premier membre pour capturer le substrat et les contacts électriquement conducteurs là-dedans.